磚用卡尺的校準(zhǔn)環(huán)境要求：

　　1.實(shí)驗(yàn)室內(nèi)溫度為（20±5）℃；

　　2.實(shí)驗(yàn)室內(nèi)相對(duì)濕度不超過80%RH；

　　3.校準(zhǔn)前將被校準(zhǔn)磚用卡尺放在室內(nèi)平衡溫度時(shí)間不少于2h。

　　磚用卡尺的具體校準(zhǔn)方法：

　　先檢查外觀，確定沒有影響計(jì)量特性因素后再進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　1.標(biāo)尺標(biāo)記寬度和寬度差

　　在讀數(shù)顯微鏡上測(cè)量，對(duì)于彎曲度尺應(yīng)分別在主標(biāo)尺和游標(biāo)尺上至少各抽測(cè)3條標(biāo)記進(jìn)行測(cè)量其寬度，對(duì)于主尺上應(yīng)在主標(biāo)尺抽測(cè)3條標(biāo)記進(jìn)行測(cè)量其寬度。其寬度差以受測(cè)量所有標(biāo)記的大值與小值寬度之差來確定。

　　2.測(cè)量面的表面粗糙度

　　用表面粗糙度比較樣塊進(jìn)行比較測(cè)量。進(jìn)行比較時(shí)，所用的表面粗糙度樣塊和被校準(zhǔn)測(cè)量面的加工方法應(yīng)相同，表面粗糙度樣塊的材料、形狀、表面色澤等也應(yīng)盡可能與被校準(zhǔn)量面一致。當(dāng)被校準(zhǔn)測(cè)量面的加工痕跡深淺不超過表面粗糙度比較樣塊工作面加工痕跡深度時(shí)，則被校準(zhǔn)測(cè)量面的表面粗糙度一般不超過表面粗糙度比較樣塊的標(biāo)稱值。

　　3.測(cè)量面的平面度

　　彎曲度尺測(cè)量面平面度和左、右支撐架側(cè)面測(cè)量面平面度及底座測(cè)量面平面度用刀口形直尺以光隙法測(cè)量。在測(cè)量時(shí)，分別在彎曲度尺測(cè)量面平面度和左、右支撐架側(cè)面測(cè)量面平面度及底部測(cè)量面平面度公共面的長邊、短邊和對(duì)角線位置上進(jìn)行。其平面度根據(jù)各方向的間隙情況確定。當(dāng)所有測(cè)量方位上出現(xiàn)的間隙均在中間部位或兩端部位時(shí)，取其中一方位間隙量大的作為平面度。當(dāng)其中有的方位中間部位有間隙，而有的方位兩端部位有間隙，則平面度以中間和兩端大間隙量之和確定。

　　4.零值誤差

　　①將彎曲度尺的測(cè)量面與檢驗(yàn)平板接觸，用目力觀察其重合度。

　?、趯?duì)于主尺測(cè)量上限至250mm的磚用卡尺，將左支撐架移到零刻線外端，然后將其緊固螺釘緊固；對(duì)于主尺測(cè)量上限至500mm的磚用卡尺，將左支撐架移到零刻線外端，右支撐架移到尾刻線外端，然后將其緊固螺釘緊固，用目力觀察其重合度。必要時(shí)，用讀數(shù)顯微鏡測(cè)量。